ICP發射光譜儀作為一個分析儀器應用范圍很廣。它的特點是具有ppb級別的檢測能力，5-6個數量級的檢測濃度范圍，并且可以批量處理多種元素。隨著ICP的廣泛使用，人們對縮短分析時間和改善復雜基體樣品檢測能力的需求日益增加。為此，我們開發了兩種類型的產品，使用半導體檢測器的全譜直讀型以縮短分析時間，和高分辨順序掃描型產品改善檢出限。

島津UniBloc水分測定儀搭載有實現正確水分測定的單體模塊傳感器「UniBloc」,搭載有可高速加熱的鹵素加熱源,加熱時可確認樣品狀態的寬大觀察窗, 可儲存測定條件10件、數據100件 可設定稱量盤上溫度50～200℃

水分測定儀搭載有實現正確水分測定的單體模塊傳感器「UniBloc」,搭載有可高速加熱的鹵素加熱源,加熱時可確認樣品狀態的寬大觀察窗, 可儲存測定條件10件、數據100件 可設定稱量盤上溫度50～200℃

島津GCMS-QP2010 Ultra氣相色譜質譜聯用儀配備ASSP功能，提高高速掃描時的靈敏度 適應全二維氣相色譜的各項要求 分析周期縮短到以往的1/2 減少維護時的停機時間約3小時 Twin Line MS雙柱系統，色譜柱更換簡便，生產效率提高2倍分析待機時電量減少36% C02排放量減少30%

GCMS-QP2010 Ultra島津氣相色譜質譜聯用儀： Z高掃描速度達到20,000u/sec 配備ASSP功能，提高高速掃描時的靈敏度 適應全二維氣相色譜的各項要求 分析周期縮短到以往的1/2 減少維護時的停機時間約3小時 Twin Line MS雙柱系統，色譜柱更換簡便，生產效率提高2倍分析待機時電量減少36% C02排放量減少30%

X射線熒光光譜儀配置新型濾光片，提高Pb、Cd等的靈敏度。 配置高計數率電路，增加檢測器的計數量。 增加時間縮短功能，由X射線熒光強度算出測定精度，自動判斷所需Z少測定時間。 增加自動工作曲線選擇功能，依據識別樣品種類的不同而選擇Z適宜的工作曲線。